硅基氮化鎵外延片(GaN-on-Si)和碳化硅基氮化鎵外延片(GaN-on-SiC)的核心區(qū)別源于
襯底材料的不同(分別為硅襯底和碳化硅襯底),這一差異進(jìn)一步導(dǎo)致兩者在晶體質(zhì)量、器件性能、成本及應(yīng)用場(chǎng)景上形成顯著分化。以下從多個(gè)關(guān)鍵維度展開(kāi)詳細(xì)對(duì)比:
襯底是外延片的 “基底”,其物理化學(xué)特性直接決定外延層質(zhì)量和最終器件的性能上限。兩者襯底的核心參數(shù)對(duì)比如下:
外延生長(zhǎng)是在襯底上 “精準(zhǔn)生長(zhǎng)” 氮化鎵薄膜的過(guò)程,襯底的匹配性直接影響工藝難度和外延層質(zhì)量:
硅基氮化鎵(GaN-on-Si)
生長(zhǎng)難度高:由于 Si 與 GaN 的晶格失配和熱膨脹系數(shù)差異極大,直接生長(zhǎng) GaN 會(huì)產(chǎn)生大量位錯(cuò)和應(yīng)力,導(dǎo)致薄膜開(kāi)裂。
關(guān)鍵技術(shù):需引入緩沖層(如 AlN、AlGaN 等)逐步過(guò)渡晶格常數(shù)和熱膨脹系數(shù),減少應(yīng)力和缺陷。即使如此,外延層的缺陷密度較高(通常在 10?~10? cm?2 量級(jí))。
外延層厚度限制:為避免應(yīng)力累積,外延層厚度通常較薄,進(jìn)一步限制了高功率場(chǎng)景的應(yīng)用。
碳化硅基氮化鎵(GaN-on-SiC)
生長(zhǎng)難度低:SiC 與 GaN 的晶格和熱膨脹系數(shù)匹配度遠(yuǎn)優(yōu)于 Si,無(wú)需復(fù)雜的緩沖層設(shè)計(jì)。
外延層質(zhì)量?jī)?yōu):缺陷密度極低(可低至 10?~10? cm?2 量級(jí)),薄膜均勻性和結(jié)晶質(zhì)量更高,為器件的長(zhǎng)壽命、高可靠性奠定基礎(chǔ)。
可生長(zhǎng)厚膜:應(yīng)力控制難度低,可生長(zhǎng)更厚的 GaN 外延層,適配高耐壓、高功率器件需求。
外延片的質(zhì)量最終體現(xiàn)在基于其制備的 GaN 器件(如功率器件、射頻器件)性能上,兩者的差異集中在 “功率密度、耐高溫、可靠性” 三大核心維度:
成本是兩者市場(chǎng)定位分化的核心因素:
硅基氮化鎵:依托成熟的硅半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈,襯底成本極低,且大尺寸(8 英寸)襯底可實(shí)現(xiàn) “一片多器件” 的量產(chǎn),大幅降低單位成本。適合消費(fèi)電子、中小功率電源等對(duì)成本敏感的場(chǎng)景。
碳化硅基氮化鎵:SiC 襯底制備工藝復(fù)雜(需高溫升華、高純提純),且大尺寸(8 英寸)襯底良率低,導(dǎo)致襯底成本是硅的 10 倍以上。整體外延片成本高,量產(chǎn)規(guī)模受限。適合高附加值、對(duì)性能要求極致的場(chǎng)景。
基于性能與成本的權(quán)衡,兩者的應(yīng)用場(chǎng)景呈現(xiàn)明確的 “高低端” 或 “中低功率 / 高功率” 分化:
消費(fèi)電子:快充充電器(如手機(jī)、筆記本快充,65W~120W)、電視電源板、游戲機(jī)電源。
中小功率電源:數(shù)據(jù)中心服務(wù)器輔助電源、分布式光伏逆變器(低壓側(cè))。
射頻領(lǐng)域:5G 基站中低功率射頻功放(Massive MIMO)、物聯(lián)網(wǎng)終端射頻器件。
新能源汽車:主逆變器(800V 高壓平臺(tái))、車載 DC-DC 轉(zhuǎn)換器(高功率密度需求)。
高壓電力系統(tǒng):高壓直流輸電(HVDC)換流閥、智能電網(wǎng)高壓變頻器。
航空航天:衛(wèi)星載荷電源、機(jī)載雷達(dá)高功率射頻功放(耐輻射、耐高溫)。
工業(yè)領(lǐng)域:高頻感應(yīng)加熱電源、大型工業(yè)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器。